台式XAFS无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现样品的X射线吸收精细结构测量和分析。可以实现对目标元素氧化态、键共价性及化学环境（包括配位数，电子授体、键长和原子间距）等信息的检测。
技术参数：
1.X射线源：XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/Ag)；XES: 100W XRF 空冷管(Pd/W)
2.能量范围：5-12 keV
3.能量分辨率：0.5-1.5 eV
4.可测包括第四周期大部分元素（包括V, Cr, Zn, Mn, Fe, Co, Ni, La, Ce, Pt等元素）
5.布拉格角测量范围：55°-85°
6.光通量：3×105-5×105 photons/sec
原位功能：高温储氢原位测试
用于研究固态储氢及其催化剂在吸放氢过程中目标金属元素价态、配位结构、键长、催化反应机理和反应路径等方面的信息。
技术参数：
温度范围：25-300 ℃
压力范围：0.1MPa-2 MPa
气氛类型：氢气
