变温霍尔效应测量系统

主要用于测量室温和变温两种不同温度条件下半导体材料中电导率、载流子浓度、迁移率、以及霍尔系数等重要参数。

技术参数：

1.温度可变范围宽：零下193°C~307°C

2.温度稳定性、准确度高：误差小于±0.05°C

3.电导率测试范围广：10-13～104S/cm

4.载流子迁移率范围宽：1～107cm2/V*s

5.载流子浓度范围宽：103～1019cm-3

6.样品仓真空度高：<10mTorr

7.升降温速度快，无机械、声音、电子等噪声，内置温度传感器，无需液氮，安全性高。