学院拥有先进的透射电子显微镜设备，包括双球差校正透射电子显微镜和场发射透射电子显微镜，能够实现各类材料，包括磁性材料的原子级高分辨形貌观察和原子级成分分析。
双球差校正透射电子显微镜：Spectra 300，Thermo Fisher
主要用途：
1.用于材料原子级高分辨形貌观察和原子级成分分析，可对H、Li等轻元素进行成像分析。
2.可在极短时间内得到高分辨率的图像观察，结合高灵敏度能谱仪和电子能量损失谱仪可实现样品的快速成分和价态分析。
3.通过原位样品杆可观察低温、高温、电和力等条件下样品微观结构的原位变化。
主要技术特点：
1.原子级表征能力：聚光镜和物镜双球差校正器，TEM分辨率：≤60pm (300kV)，STEM分辨率：≤50pm (300kV)。
2.数据重复性高：自动化程序自动获取高质量STEM图像，自动调节单色器
3.EDS性能优化：一体化能谱仪，有效探测器面积 ≥4×30 mm2，能量分辨率：≤136 eV (Mn-Kα)，可实现原子分辨率EDS Mapping。
4.原位和动态研究平台：高速相机、能谱探头、智能软件和宽极靴物镜(≥5 mm)。
5.可实现复杂、轻质和敏感性材料的原子级表征。
6.可实现磁性样品的高分辨微观结构研究和分析。
场发射透射电子显微镜：Talos F200S, Thermo Fisher
主要用途：
1.用于各类材料，包括磁性材料的高分辨形貌观察和成分分析。
2.可在极短时间内得到高分辨率的图像观察，结合高灵敏度的能谱仪可实现样品的快速成分分析。
3.通过原位样品杆可观察低温、高温、电和力等条件下样品微观结构的原位变化。
主要技术特点：
1.点分辨率：≤0.25nm@200 kV；
2.线分辨率：≤0.10nm@200 kV；
3.STEM分辨率：≤0.16nm@200 kV；
4.信息分辨率：≤0.12nm@200 kV；
5.可实现目前所有的STEM成像模式，包括HAADF、ADF、ABF，实时DPC和iDPC等。
6.可实现同时对轻重原子成像及易受电子束流损伤样品的成像。
7.可在STEM模式下直接对样品的磁场，电场进行研究。
8.原位和动态研究平台：高速相机、能谱探头、智能软件和宽极靴物镜(≥5 mm)。
